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Philips Fortimo SLM SLM 2000 G3

Philips Fortimo SLM SLM 2000 G3

Außendurchmesser: 75mm Innendurchmesser: 68mm Höhe: 42mm Ausführung: ALUNOVA® LED Design: sphärische Facetten Ausstrahlwinkel: 2x 13° = 26° Außendurchmesser: 75mm Innendurchmesser: 68mm Höhe: 42mm
T5 - High Performance

T5 - High Performance

Breite: 78mm , Länge: 875mm, Höhe: 50mm, 1 x 21 W T16/T5, Miro 4 Silver, Hochglanz, 2x 48° = 96° Artikelnummer: 113605S02388
Osram OS Soreiq P9 Soleriq P9_700mA_LES 9

Osram OS Soreiq P9 Soleriq P9_700mA_LES 9

Außendurchmesser: 75mm Innendurchmesser: 68mm Höhe: 42mm ALUNOVA® LED sphärische Facetten 2x 16° = 32° Artikelnummer: 113239015101
Cree CXA2530 Cree CXA2530

Cree CXA2530 Cree CXA2530

Außendurchmesser: 111mm Innendurchmesser: 102mm Höhe: 66.4mm ALUNOVA® LED sphärische Facetten 2x 20° = 40° Artikelnummer: 113241050101
T5 - Mini

T5 - Mini

Breite: 56mm Länge: 849mm Höhe: 33mm 1 x 21 W T16/T5 Miro 4 Silver hochglanz 2x 46° = 92°
Aufklärung von Schichtstrukturen - Sputterprofilmessungen - Querschnitte

Aufklärung von Schichtstrukturen - Sputterprofilmessungen - Querschnitte

Die Aufklärung des Aufbaus und der Zusammensetzung von Schichtstrukturen vom Mikrometer bis in den Nanometerbereich gehört zu unserem Dienstleistungsangebot. Die Analyse von Dünnfilmen, Schichten und Schichtstrukturen sowie dickeren Be­schicht­ungen ist ein eigenes Gebiet der Oberflächenanalytik. Die Schichtdicken können dabei von nur wenigen Nanometern bis hin in den Millimeter-Bereich variieren. Teilweise müssen die Untersuchungen sehr lokal, z.B. im Bereich einer Fehlstelle, durchgeführt werden. Je nach Aufgabenstellung werden hier verschiedene Analysemethoden eingesetzt, oft auch in Kombination. Die Art der Präparation bzw. die Informationstiefe der Methode muss dabei auf die spezifische Probe und Fragestellung abgestimmt werden. Für die Probenpräparation stehen bei nanoAnalytics verschiedenen Tools zur Verfügung: - Sputtertiefenprofilmessungen mit XPS oder ToF-SIMS - Erstellen Materialographischer/Metallographischer Querschliffe, incl. chemischem Ätzen oder Ionenätzen zur Kontrastierung - Präparation von Ionen-Querschnitten (ähnlich FIB Schnitten) - Kryo-Brüche Weitere Informationen finden Sie auf der Produkt-Informationsseite (--> Link oben).